スリット光を利用して表面の傷・凸凹・異物等を強調して検出

外観検査では困難な光沢面や光を反射するワークの検査が可能

スリットシフトMin-Max法による欠陥強調
スリット光をシフトさせることで、検査対象ワークに生じる輝度の変化が欠陥の有無によって異なることを利用し表面部における欠陥を高精度に検出します。 欠陥の無い箇所はスリットパターンの投影を行っても反射率に変化がないことを利用し、欠陥の部分だけを強調して浮かび上がらせた画像を撮影することができます。
（実用新案第3197766号）

自動検査に適した4つの特徴

• 広範囲・高精度検出
  120x100mmの広範囲を1ショットで検査分解能0.1mmで欠陥・異物・キズを検出
  
  
• 簡単操作
  1クリックで画像処理レシピに基づいた同一条件の検査がどなたでも可能
  
  
• 高速検査
  検査タクトは1ショット約0.5秒、手置きの検査はもちろん外部トリガーを利用したインライン検査も
  
  
• 高い柔軟性
  貴社のニーズに合わせた最適化・カスタマイズも可能です
  
  

アプリケーション例

従来の外観検査では困難な光沢のあるワーク・透明なワークに最適です。
【自動車】
・バンパー、サイドミラー、メッキグリル
・操作用タッチパネル、・内装品
【民生品】
・スマーとフォン、タッチパネル
・フィルム状のシート
【その他】
・レンズ加工表面
・金属加工表面
・化粧品塗装容器




ご興味のある方は、お気軽にお問い合わせください。