既存設備を活かして外観検査の自動化を実現
VIS ImageAnalyzer

VIS ImageAnalyzerはこんなお悩みを解決します

電子部品や半導体チップなどの外観検査でこのようなお悩みはありませんか？

■オペレーターの熟練度により検査結果がにバラつきがあり、欠陥の見落としや過検出が減らない
■どこまでを不良と判断すればよいのか、基準が設けられない
■AIは導入したいが、多くの不良画像が無く学習ができないと言われてしまった
■高性能な外観検査装置を導入したいが、導入コストが高い


VIS ImageAnalyzerは画像解析に30年以上携わっているなかで開発されたアルゴリズムと最新のAI、機械学習の機能を組み合わせたソフトウェアです。 AI搭載の良品比較機能で目視検査特有のバラつきにも強く、従来の画像処理法では難しいような濃淡の少ない欠陥や汚れなども検出します。

また、ソフトウェアのみでの導入が可能なため、お持ちの装置ので撮影した画像を利用していただけます。そのため、高額な費用を抑えて導入をご検討いただくことができます。

製造現場の外観検査に有効なAI学習

VIS ImageAnalyzerの外観検査で利用するAI機械学習ではソフトウェアは良品画像を記憶し、良品の特徴をもとに欠陥と思われる箇所を検出します。

多くの欠陥の画像データを用意することは難しいですが良品画像であれば用意できるというお客様も多く、ご好評いただいております。
また、Deep Learning（深層学習）を用いた学習ではないため煩わしい学習の時間もほとんどなく、製造現場で良品とNG品との比較検査を開始するのに 適したモデルとなっています。

過検出や見逃しを防ぐための最終的な基準は操作者が設定することもできるため、最新の機械学習と従来の画像検査の良いところを合わせて利用できます。

外観検査に有効な処理を多数搭載

良品比較だけでなく微細な濃淡の変化に強い検出アルゴリズムも備えており、クラックなどの画像での見た目が非常に見分けづらいものにも有効です。異物や汚れの付着、バリ、クラック、パターンの断線など様々な対象にご利用いただけます。

また、画像内の指定した領域ごとに異なる設定を登録可能です。範囲毎に基準を変更することもでき、重点的に検査したい領域も逃しません。

サーバーを利用することで複数の撮影装置にも対応

撮影装置と1対1のスタンドアロン型だけでなく、多数装置の撮影データを画像データサーバでまとめることで本ソフト１つで自動検査可能になります。